产物详情
Filmetrics F10-HC薄膜厚度测量仪
Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪产物介绍：
Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪是以Filmetrics F20 白光干涉仪膜厚仪为基础所发展而来。F10-HC 薄膜厚度测量系统的接触式探头大大降低反射干扰的影响，能够快速的分析薄膜的反射光谱资料并提供测量厚度，Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪软件的模拟演算法的设计，能够在厚膜中测量单层与多层(例如：底漆或硬涂层等)。
Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪产物特点优势：
具备价格优势的薄膜测量系统；
具备简易的操作系统，新样板模式功能的贵10-贬颁薄膜厚度测量仪自动通知测量结果；
自动化基准矫正以及设置自己的积分时间；
接触式探头大大降低反射干扰的影响；
Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪产物测量原理：
当入射光穿透不同物质的界面时将会有部分的光被反射，由于光的波动性导致从多个界面的反射光彼此干涉，从而使反射光的多波长光谱产生震荡的现象。从光谱的震荡频率，可以判断不同界面的距离进而得到材料的厚度（越多的震荡代表越大的厚度），同时也能得到其他的材料特性如折射率与粗糙度。
Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪产物应用与膜层范例：
音膜厚度检测，通过反射率信息计算音膜的厚度测量，采用接触式探头，从而降低背面反射影响，更好的对膜的凹凸不规则表面进行测量。
Filmetrics F10-HC薄膜厚度测量仪产物参数：
波长范围： | 380nm-1050nm | 光源： | 钨卤素灯 |
厚度测量范围： | 0.05μ尘-70μ尘 | 测量精度： | 0.01μ尘 |
光斑大小： | 200μ尘 | 稳定性： | 0.01μ尘 |
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Filmetrics F10-HC薄膜厚度测量仪测量图：
