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Filmetrics F20 单点光学膜厚测量仪
2016/8/26 [3730]

无论您是想要知道薄膜厚度、光学常数,还是想要知道材料的反射率和透过率,Filmetrics F20 单点光学膜厚测量仪都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装,通过USB连接电脑,设备就可以在数秒内得到测量结果。基于模块化设计的特点,Filmetrics F20 单点光学膜厚测量仪适用于各种应用。


Filmetrics F20 单点光学膜厚测量仪产物特点:

  • 非接触测量:避免损伤薄膜,适用于脆弱或敏感材料;

  • 高精度与宽量程&补尘辫;:垂直分辨率达纳米级,可测厚度范围从1苍尘至3尘尘;

  • 多场景适用性:基本上光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。

  • 测量速度快:配置完成后,数秒内即可完成测量。


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