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KLA R54 四探针电阻率测量仪是KLA的电阻率测量产物。从半导体制造到实现可穿戴技术所需的柔性电子产物，薄膜电阻监控对于任何使用导电薄膜的行业都相当重要。KLA R54 四探针电阻率测量仪在功能上针对金属薄膜均匀性测绘、离子注入表征和退火特性、薄膜厚度和电阻率测量以及非接触式薄膜厚度测量进行了优化。

型号：搁54

更新日期：2025-06-24

￥面议

KLA R50 四探针电阻率测绘系统是KLA电阻测试系列的产物。电阻测量和监控对于任何使用导电薄膜的行业都相当重要，从半导体制造到可穿戴技术所需的柔性电子产物。KLA R50 四探针电阻率测量仪在金属膜均匀性分布、离子掺杂和注入表征、薄膜厚度和电阻率分布、以及非接触膜厚等量测领域均可涉及。

型号：搁50

更新日期：2025-06-24

￥面议