糖心官网vlog

Filmetrics F54-XYT-300 自动测量光学膜厚仪借助F54-XYT-300的光谱反射系统，可以快速轻松地测量200 x 200mm样品的薄膜厚度。电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供快速的厚度测量，速度达到每秒两点。

型号：贵54-齿驰罢-300

更新日期：2025-06-24

￥面议

HORIBA Auto SE 椭圆偏振光谱仪是一种新型薄膜测量工具。仅需简单的几个按钮，几秒钟内即可自动完成样品测量和分析，并提供完整的薄膜特性分析报告，包括薄膜厚度、光学常数、表面粗糙度和薄膜的不均匀性、反射率或透过率。它是用于快速薄膜测量和器件质量控制的解决方案。专为薄膜测量设计，一键式操作实现高效率。

型号：Auto SE

更新日期：2025-06-24

￥面议

HORIBA Smart SE 椭圆偏振光谱仪是一种薄膜测量工具。仅需简单的几个按钮，几秒钟内即可自动完成样品测量和分析，并提供完整的薄膜特性分析报告，包括薄膜厚度、光学常数、表面粗糙度和薄膜的不均匀性、反射率或透过率。它是用于快速薄膜测量和器件质量控制的解决方案。为薄膜测量设计，一键式操作。

型号：Smart SE

更新日期：2025-06-24

￥面议

HORIBA UVISEL Plus 相位调制型椭圆偏振光谱仪基于新版的电子设备，数据处理和高速单色仪，Fastacq技术能够为用户提供高分辨及快速的数据采集。FastAcq为薄膜表征特殊设计，双调制技术使您可以获得完整的测试结果。相位调制与消色差光学设计的结合提供了特别的膜厚测试效果。配备双单色仪系统的特殊设计满足用户的期望值，通过模块化的设计，更多的附件选择，使得仪器使用能变得灵活。

型号：UVISEL Plus

更新日期：2025-06-24

￥面议

Filmetrics F32 光反射式膜厚仪特殊的光谱分析系统采用半宽的3u rack- mount底盘，加上附加的分光计，可达到四个不同的位置(EXR和UVX版本至多两个位置)。F32膜厚仪软件可以通过数字I/O或主机软件来控制启动/停止/复位测量。测量数据可以自动导出到主机软件中进行统计过程控制。还提供可选的透镜组件，以便于集成到现有的生产装置上。

型号：贵32

更新日期：2025-06-24

￥面议

Film Sense FS-8多波长椭偏仪采用寿命长 LED 光源和非移动 式部件椭偏探测器，可在操作简单的紧凑型椭偏仪中实现可靠地薄膜测量。大多数厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要简单的 1 秒测量，就可以获得准确的数据。还可以测量大多数样品的光学常数和其他薄膜特性。

型号：贵厂-8

更新日期：2025-06-25

￥面议

Filmetrics F60-t 自动光反射膜厚仪就像我们的F50白光干涉膜厚测量仪产物一样。主要测绘薄膜厚度和折射率。但它增加了许多用于生产环境的功能。这些功能包括凹槽自动检测、自动基准确定、全封闭测量平台、预装软件的工业计算机，以及可以升级到全自动化晶圆传输的机型。

型号：贵60-迟

更新日期：2025-06-25

￥1

Filmetrics F54 白光干涉膜厚测量仪能以一个电动R-Theta平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达450毫米，可选择数十种内建之同心圆,矩形,或线性图案模式,或自行建立无数量限制之测量点.只需具备基本电脑技能，就可在数分钟内自行建立配方。

型号：贵54

更新日期：2025-06-24

￥1