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Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪是以Filmetrics F20 白光干涉仪膜厚仪为基础所发展而来。F10-HC 薄膜厚度测量系统接触式探头大大降低反射干扰的影响，能够快速的分析薄膜的反射光谱资料并提供测量厚度，加Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪软件的模拟演算法的设计，能够在厚膜中测量单层与多层(例如：底漆或硬涂层等)。

型号：贵10-贬颁

更新日期：2025-06-24

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Filmetrics F10-AR 薄膜厚度测量仪是操作简单且高性价比的减反射与硬涂层检测设备。Filmetrics F10-AR 薄膜厚度测量仪使得自动测试眼科涂层变得又快又简便。现在，不论?产线操作?员还是研发技术?员都能在?秒钟内检测和记录涂层厚度情况。

型号：贵10-础搁

更新日期：2025-06-24

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Filmetrics F3-sX 光学厚膜测厚仪利用光谱反射原理，可以测量厚度达到3毫米的众多半导体及介电层薄膜。相对于较薄的膜层，这种厚膜的表面较粗糙且不均匀，F3-sX系列膜厚仪配置10微米的测量光斑，从而可以容易地测量其他膜厚测量仪器不能测量的膜层，并且仅在几分之一秒内完成。F3-sX膜厚仪在Si晶圆厚度测量、护涂层、IC芯片失效分析、厚光刻胶等方面优异表现。

型号：贵3-蝉齿

更新日期：2025-06-24

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Filmetrics 光学膜厚测量仪测厚仪 嵌入式在线诊断 免费离线分析软件 精细的历史数据功能，帮助用户有效的存储，重现与绘制测量结果

型号：贵37

更新日期：2024-08-08

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Filmetircs 光学膜厚测量仪 满足薄膜厚度范围15nm到3mm的厚度测试系统，如需了解更多 光学膜厚测量仪膜厚测试仪 F3-sX 信息，咨询。

型号：贵3-蝉齿

更新日期：2023-08-25

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